基于CT技术的孔隙尺寸计算方法及装置
公开
摘要
本发明提供基于CT技术的孔隙尺寸计算方法及装置，能够形象直观的描述和模拟试样内部孔隙的形貌尺寸，并且精确地计算孔隙尺寸，从而更加准确地获取试样的真实孔隙信息。方法包括：步骤1.将试样原始图像进行图像处理和三维重构，得到由nx×ny×nz个体素构成的试样三维图像，将图像沿x方向按顺序以二维切片的图片保存，得到试样的一系列二维切片灰度图；步骤2.将切片灰度图进行二值化处理，得到仅包含试样固体体素和孔隙体素的二值化图片；步骤3.将所有二值化后的切片图进行叠加，得到试样的三维二值图像，该图像为(nx×ny×nz)的三维数组，记为数组A；步骤4.对孔隙空间中每一个孔隙体素，依次求解孔隙半径。
基本信息
专利标题 ：
基于CT技术的孔隙尺寸计算方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114565658A
申请号 ：
CN202210047008.8
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-01-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
胡五龙蒋张泽吴卫国许铭扬肖一鹤李凡
申请人 ：
武汉理工大学
申请人地址 ：
湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
代理机构 ：
武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
俞琳娟
优先权 ：
CN202210047008.8
主分类号 ：
G06T7/62
IPC分类号 ：
G06T7/62 G06T17/00 G01N23/046
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/10
分割；边缘检测
G06T7/60
图形属性的分析
G06T7/62
面积、周长、直径或体积
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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