一种基于FPGA技术屏幕测试极联结构
公开
摘要
本发明涉及屏幕测试技术领域，尤其为一种基于FPGA技术屏幕测试极联结构，包括主控板，所述主控板的右侧设置有测试机构，包括主控板，所述主控板的右侧设置有测试机构，所述测试机构包括信号板、信号输入电缆、信号输出电缆以及PFGA模块，所述主控板的左侧连接有外接电源，本发明可以有效解决目前现有的屏幕测试结构实用性较低，使用不方便的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种基于FPGA技术屏幕测试极联结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114545196A
申请号 ：
CN202210047233.1
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-01-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈润平
申请人 ：
深圳思凯测试技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明区凤凰街道塘尾社区光明大道与东长路交叉口东南侧南太云创谷园区1栋1201
代理机构 ：
深圳峰诚志合知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈列生
优先权 ：
CN202210047233.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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