一种基于逆向工程的缩痕深度测量法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种基于逆向工程的缩痕深度测量法;获取缩痕件的三维扫描数据及缩痕件模型的点云数据;对点云数据进行预处理及逆向成型,获得缩痕件模型;将缩痕件模型摆正,使其外观面与原设计模型的外观面重合;在缩痕件模型上分割出缩痕测量面,在原设计模型上分割出基准面,并将两个面转化为多个缩痕测量点和基准点;获取各个测量点和原设计模型外观面在基准方向上的距离即为缩痕深度,最大值为最大缩痕深度。本发明通过逆向工程描绘出缩痕的形貌,测量出实际零件相对于原设计模型在外观面的收缩量即缩痕,弥补了现有技术只能测量平面缩痕的缺点,获得了缩痕深度的精确值,实现对缩痕缺陷的表征与量化,为后期的优化与改善提供指导。

基本信息
专利标题 :
一种基于逆向工程的缩痕深度测量法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114543730A
申请号 :
CN202210054672.5
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-01-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
徐晓蔡伟南夏琴香肖刚锋
申请人 :
华南理工大学
申请人地址 :
广东省广州市天河区五山路381号
代理机构 :
广州市华学知识产权代理有限公司
代理人 :
蔡克永
优先权 :
CN202210054672.5
主分类号 :
G01B21/18
IPC分类号 :
G01B21/18  G06T17/20  G06F30/23  G06F113/10  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/18
用于计量深度
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 21/18
申请日 : 20220118
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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