分析基带性能的方法和仿真系统
实质审查的生效
摘要

提供了一种分析基带性能的方法和仿真系统。所述方法包括:向基带芯片的仿真架构输入测试用例,得到测试数据,其中所述仿真架构为基于事务级模型的架构,且所述仿真架构包括基于System C语言建模而成的至少一个模块;其中,所述测试数据包括所述基带芯片的最大吞吐量和空口下行配置参数;根据所述测试数据对所述基带芯片的性能进行分析。本申请提出的分析基带性能的方法,能够对基带芯片实现快速、精准的性能评估,缩短基带芯片的开发周期。

基本信息
专利标题 :
分析基带性能的方法和仿真系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114416460A
申请号 :
CN202210056871.X
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2022-01-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杜梦昕郭旸
申请人 :
OPPO广东移动通信有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市长安镇乌沙海滨路18号
代理机构 :
北京布瑞知识产权代理有限公司
代理人 :
张欣
优先权 :
CN202210056871.X
主分类号 :
G06F11/26
IPC分类号 :
G06F11/26  G06F13/28  G06F15/78  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内,通过测试作故障硬件的检测或定位
G06F11/26
功能检验
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/26
申请日 : 20220118
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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