一种用于测量残余应力的临界折射纵波的设备和方法
实质审查的生效
摘要

本申请涉及公开了一种用于测量残余应力的临界折射纵波的设备和方法,在被测工件上设置第一压电晶片,用于激励临界折射纵波;在被测工件上设置第二压电晶片和第三压电晶片,用于接收临界折射纵波,第二压电晶片和第三压电晶片之间距离为L;设置示波器,用于获取第二压电晶片和第三压电晶片接受到的波形;通过示波器得出第二压电晶片和第三压电晶片之间的波的时间差t;根据t、L计算出被测工件上的临界折射纵波的传播速度v;根据预先建立的v和残余应力的关系式,计算被测工件中的残余应力。因此,可以通过临界折射纵波的速度来测量残余应力的大小,由于该探头可实现两个压电晶片接收,所以消除了耦合因素的影响,降低了检测误差。

基本信息
专利标题 :
一种用于测量残余应力的临界折射纵波的设备和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114544778A
申请号 :
CN202210066442.0
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-01-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
吕中宾叶中飞炊晓毅李阳刘泽辉张博伍川刘光辉陶亚光马伦张宇鹏宋高丽张帅
申请人 :
国网河南省电力公司电力科学研究院;国家电网有限公司;郑州大学
申请人地址 :
河南省郑州市二七区嵩山南路85号
代理机构 :
苏州知途知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张锦波
优先权 :
CN202210066442.0
主分类号 :
G01N29/07
IPC分类号 :
G01N29/07  G01N29/22  G01L5/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料;靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/04
固体分析
G01N29/07
通过测量声波的传播速度或传播时间
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 29/07
申请日 : 20220120
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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