用于中心导体法磁粉检测的试件以及该试件的检测方法
实质审查的生效
摘要

本发明属于无损检测技术领域,公开了一种用于中心导体法磁粉检测的试件以及该试件的检测方法,检测方法包括将导体放置在磁探检测台两个夹头之间,试件套在导体上,用支撑工件固定试件使导体位于试件的中心位置;对导体通电磁化并施加磁粉或磁悬液获得磁痕;记录磁化电流大小和磁痕的长度;依据公式计算出磁粉检测深度。本发明的试件能够用于中心导体法磁粉检测内壁近表面纵向缺陷的可检深度,该试件的检测方法能够用于制定合适可行的中心导体法磁粉检测工艺,用于检测铁磁性材料管子等空心件的内壁近表面纵向缺陷可检深度的工艺灵敏度、分辨率、可靠性验证,优化中心导体法磁粉检测工艺参数,提高该类型工件的内壁近表面纵向缺陷检测能力。

基本信息
专利标题 :
用于中心导体法磁粉检测的试件以及该试件的检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114544754A
申请号 :
CN202210067471.9
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-01-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
蒋浩袁宗泽乐开白刘春华姚洋刘道云黄书海孟庆伟李玉
申请人 :
中国人民解放军63836部队
申请人地址 :
四川省绵阳市涪城区二环路南段6号
代理机构 :
成都信捷同创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
左正超
优先权 :
CN202210067471.9
主分类号 :
G01N27/84
IPC分类号 :
G01N27/84  G01B7/26  G01B7/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/626
应用加热电离气体
G01N27/72
通过测试磁变量
G01N27/82
用于测试缺陷的存在
G01N27/83
通过测试杂散磁场
G01N27/84
通过利用磁性粉末或磁性墨水
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 27/84
申请日 : 20220120
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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