本发明属于无损检测技术领域，公开了一种用于中心导体法磁粉检测的试件以及该试件的检测方法，检测方法包括将导体放置在磁探检测台两个夹头之间，试件套在导体上，用支撑工件固定试件使导体位于试件的中心位置；对导体通电磁化并施加磁粉或磁悬液获得磁痕；记录磁化电流大小和磁痕的长度；依据公式计算出磁粉检测深度。本发明的试件能够用于中心导体法磁粉检测内壁近表面纵向缺陷的可检深度，该试件的检测方法能够用于制定合适可行的中心导体法磁粉检测工艺，用于检测铁磁性材料管子等空心件的内壁近表面纵向缺陷可检深度的工艺灵敏度、分辨率、可靠性验证，优化中心导体法磁粉检测工艺参数，提高该类型工件的内壁近表面纵向缺陷检测能力。