一种浅地层剖面仪计量校准方法及装置
实质审查的生效
摘要
本发明公开一种浅地层剖面仪计量校准方法，包括测量测深示值误差、测量垂直分辨力示值误差、测量波束宽度示值误差，根据测量误差结果，对浅地层剖面仪进行判定；校准装置包括平台，平台底端固定连接有两个行走部，其中一个行走部上固定连接有速度调节部，速度调节部啮合设置有动力部，动力部顶端与平台底端固定连接，平台底端固定连接有旋转升降机构，旋转升降机构位于两个行走部之间；旋转升降机构包括旋转部，旋转部顶端与平台底端固定连接，旋转部底端固定连接有伸缩杆顶端，伸缩杆底端固定连接有密封壳，密封壳内设置有角度调节部，角度调节部顶端与伸缩杆底端固定连接，角度调节部底端可拆卸连接有浅地层剖面仪。
基本信息
专利标题 ：
一种浅地层剖面仪计量校准方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114415159A
申请号 ：
CN202210077433.1
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2022-01-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
柳义成隋海琛李绍辉曹玉芬韩鸿胜杨鲲库安邦窦春晖高术仙张明敏
申请人 ：
交通运输部天津水运工程科学研究所
申请人地址 ：
天津市滨海新区新港二号路2618号
代理机构 ：
北京东方盛凡知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李瑞雨
优先权 ：
CN202210077433.1
主分类号 ：
G01S7/52
IPC分类号 ：
G01S7/52
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S7/4915
....延时测量,例如像素分量的操作细节 ；相位测量
G01S7/52
与G01S15/00组相应的系统的
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 7/52
申请日 : 20220124
申请日 : 20220124
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
