一种岩石样品孔裂隙结构表征方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种岩石样品孔裂隙结构表征方法,涉及非常规天然气实验领域;岩石样品孔裂隙结构表征方法包括如下步骤:S1、制备页岩样品,并对所述页岩样品进行烘干处理;S2、将所述页岩样品和固态金属置于加压容器中,将所述固态金属熔化成液态金属后注入所述页岩样品中,待所述液态金属冷却凝固后,得到注入金属后的页岩样品;S3、将所述注入金属后的页岩样品切开,并通过扫描电镜观察,获得所述页岩样品的孔裂隙结构特征;本发明能够观察固态金属在页岩样品孔裂隙结构中的真实赋存情况,孔裂隙结构的连通情况,以及不同目标压力下液态金属能够进入的孔裂隙结构尺寸,从而实现对页岩样品中的孔裂隙结构的可视化。

基本信息
专利标题 :
一种岩石样品孔裂隙结构表征方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114544684A
申请号 :
CN202210078284.0
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-01-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
崔子昂孙梦迪潘哲君高波王永超
申请人 :
中国地质大学(武汉)
申请人地址 :
湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202210078284.0
主分类号 :
G01N23/2251
IPC分类号 :
G01N23/2251  G01N23/2202  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
G01N23/2251
使用入射电子束,例如扫描电子显微镜
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/2251
申请日 : 20220124
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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