SSD固态硬盘的批量测试方法和系统
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种SSD固态硬盘的批量测试方法和系统,包括:S1、所述前端处理器获取测试参数,根据所述测试参数进行测试配置并通知后端处理器对本批次的SSD固态硬盘中的NAND Flash介质进行批量测试,将测试过程中产生的错误信息进行统计,并根据统计信息确定下一批次的NAND Flash介质的测试策略;S2、在所述后端处理器进行批量测试时,所述前端处理器对所述SSD固态硬盘中的DDR颗粒和储能电容进行测试。本发明可以大大提高测试效率。

基本信息
专利标题 :
SSD固态硬盘的批量测试方法和系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114360630A
申请号 :
CN202210080825.3
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-01-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈力薛红军刘昆
申请人 :
北京得瑞领新科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园·北领地B-6号楼A座9层A905室
代理机构 :
北京慧智兴达知识产权代理有限公司
代理人 :
李丽颖
优先权 :
CN202210080825.3
主分类号 :
G11C29/56
IPC分类号 :
G11C29/56  G06F11/22  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置,例如:用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置,例如,自动测试设备;所用接口
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/56
申请日 : 20220124
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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