基于近场平面扫描三维波数域成像的目标RCS测量方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种基于近场平面扫描三维波数域成像的目标RCS测量方法,通过平面宽频带扫描和三维波数域成像获取目标的高分辨率的三维雷达图像,进而反演得到目标的高精度RCS值。在平面扫描合成孔径雷达系统中,包括初始化参数;获取目标散射回波数据;获取目标的三维雷达图像;提取目标的等效散射中心;外推得到目标的远场散射场;用同样的方法对定标体进行测量;定标计算目标的真实RCS。该方法在目标的散射近场进行测量,基于成像机理,成像公式不受合成孔径大小的限制,既能得到目标的三维高分辨率空间散射图像,又能计算出目标在一定空间立体角域内的RCS值,可以更加快速、准确的反映目标的电磁散射特性。

基本信息
专利标题 :
基于近场平面扫描三维波数域成像的目标RCS测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114415140A
申请号 :
CN202210096540.9
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2022-01-26
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
洪涛贾润强姜文
申请人 :
西安电子科技大学杭州研究院
申请人地址 :
浙江省杭州市萧山区经济技术开发区钱农东路8号
代理机构 :
西安通大专利代理有限责任公司
代理人 :
姚咏华
优先权 :
CN202210096540.9
主分类号 :
G01S7/41
IPC分类号 :
G01S7/41  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01S
无线电定向;无线电导航;采用无线电波测距或测速;采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测;采用其他波的类似装置
G01S7/00
与G01S13/00,G01S15/00,G01S17/00各组相关的系统的零部件
G01S7/02
与G01S13/00组相应的系统的
G01S7/41
使用考虑到目标特性的回波信号的分析;目标形状的;目标截面的
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 7/41
申请日 : 20220126
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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