一种用于小麦面粉加工的质量测量专用漏斗
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种用于小麦面粉加工的质量测量专用漏斗,包括缓冲斗、检验箱和支架,缓冲斗和检验箱安装于支架上部,缓冲斗和检验箱连接,缓冲斗包括方仓和锥仓,方仓位于锥仓上部,方仓和锥仓贯通且密封连接,缓冲斗内设有螺旋杆,检验箱内设有取料筒、挡板和传输组件,取料筒用于对缓冲斗内的小麦面粉进行取样,并将取样后的小麦面粉释放到传输组件上,传输组件用于输送待检测的小麦面粉,检验箱上部设有防尘箱,防尘箱内设有主机和扫描相机,扫描相机用于扫描待检测的小麦面粉并对待检测的小麦面粉进行质量和成分的检验。本发明能够实现实时自动的对小麦面粉质量和成分信息进行检测,并将小麦面粉检测数据数据传送至主机,便于检测人员实时掌控小麦面粉生产质量。

基本信息
专利标题 :
一种用于小麦面粉加工的质量测量专用漏斗
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114441534A
申请号 :
CN202210097352.8
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2022-01-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘国浩刘国栋卜高峰颜红军
申请人 :
安徽柳丰种业科技有限责任公司
申请人地址 :
安徽省淮北市濉溪县百善现代农业示范园泗永路南侧
代理机构 :
宿州智海知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
董慧玲
优先权 :
CN202210097352.8
主分类号 :
G01N21/84
IPC分类号 :
G01N21/84  G01N21/01  G01N1/38  B65D88/68  B65D88/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/84
申请日 : 20220127
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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