一种角位移传感器校准装置及其检测方法
实质审查的生效
摘要

本发明涉及测试技术领域,具体涉及一种角位移传感器校准装置及其检测方法,包括夹持组件、滑动组件、支撑组件和光学分度头,夹持组件包括安装板、多个夹紧块、两个第一导向杆、连接块、第一螺杆、滑套和多个连接杆,夹持组件可以滑动靠拢光学分度头,夹持组件用于夹持角位移传感器,当需要校准角位移传感器时,转动第一螺杆,驱动滑套在两个第一导向杆上滑动,滑套滑动带动多个连接杆,从而带动多个夹紧块滑动,将角位移传感器夹持住,然后利用滑动组件将角位移传感器滑动到光学分度头的侧边,利用光学分度头进行校准,从而能够方便快捷的夹持住角位移传感器以方便校准。

基本信息
专利标题 :
一种角位移传感器校准装置及其检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114485532A
申请号 :
CN202210097913.4
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘增启王铁良吴华阳张彤琛郭雯佳李建英李新科杨玲
申请人 :
阿米检测技术有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市惠山区长安街道惠成路9
代理机构 :
南京苏博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
柳强
优先权 :
CN202210097913.4
主分类号 :
G01B21/22
IPC分类号 :
G01B21/22  G01M1/10  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/22
•用于计量角度或锥度;用于检测轴线准直
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 21/22
申请日 : 20220127
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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