试题批改方法、装置、存储介质及电子设备
实质审查的生效
摘要
本公开涉及一种试题批改方法、装置、存储介质及电子设备,属于智能教学领域,所述方法包括:提取作答图像中的作答内容以及试题信息,并确定所述作答内容中的作答步骤信息;根据所述试题信息确定所述作答内容对应的目标试题数据;根据所述作答步骤信息与所述目标试题数据中的标准解法信息,确定所述作答内容对应的错误步骤;根据所述错误步骤,在所述目标试题数据的讲解材料集合中确定目标讲解材料,并将所述目标讲解材料发送至作答人。能够实现步骤级的错误定位,找到学生错误的根本原因,发掘错误根源,从而给学生进行针对性的讲解,极大地提高了学生的学习效率。
基本信息
专利标题 :
试题批改方法、装置、存储介质及电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114529920A
申请号 :
CN202210102531.6
公开(公告)日 :
2022-05-24
申请日 :
2022-01-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陶俊杰邱伟伟张晓雷时静一其他发明人请求不公开姓名
申请人 :
北京鼎事兴教育咨询有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区丹棱街16号海兴大厦9层901单元、902单元、907单元、908单元、910单元
代理机构 :
北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
曾尧
优先权 :
CN202210102531.6
主分类号 :
G06V30/41
IPC分类号 :
G06V30/41 G06V30/42 G06V30/19 G06V30/148 G06V10/74 G06F16/903 G06Q50/20 G06K9/62
法律状态
2022-06-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06V 30/41
申请日 : 20220127
申请日 : 20220127
2022-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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