周期信号的抗谐波干扰的相位检测方法及装置
公开
摘要
本发明涉及一种周期信号的抗谐波干扰的相位检测方法及装置，属于数字信号处理和精密测量领域。该方法将实时测量条件下的待测相位分为整数部分和小数部分。对整数部分的测量，通过整周期计数实现；对小数部分的测量，分别在静态条件和实时测量条件下对待测量信号采样，获取匹配模板和待测相位采样信号序列，建立仿射变换关系模型，计算实时测量条件下的小数部分相位。最后将整数部分和小数部分相位合并，得到实时测量条件下的完整待测相位。相较于已有方法，本方法由于不需要待测信号具有理想正弦形式特征，避免了离散傅里叶变换的频谱泄露与栅栏效应、正交解相的低通滤波器设计以及待测信号频率已知的条件限制，具有更高的分辨率。
基本信息
专利标题 ：
周期信号的抗谐波干扰的相位检测方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624513A
申请号 ：
CN202210103070.4
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-01-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
胡金春朱煜华国杰文庭瑞徐登峰张鸣王磊杰
申请人 ：
清华大学
申请人地址 ：
北京市海淀区清华园
代理机构 ：
北京鸿元知识产权代理有限公司
代理人 ：
董永辉
优先权 ：
CN202210103070.4
主分类号 ：
G01R23/16
IPC分类号 ：
G01R23/16 G06F17/15 G06F17/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R23/00
测量频率的装置；频谱分析装置
G01R23/16
谱分析；傅立叶分析
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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