用于植物根际污染物印迹测定的装置及植物根际污染物印迹测定...
实质审查的生效
摘要
用于植物根际污染物印迹测定的装置及植物根际污染物印迹测定方法,涉及一种用于植物根际物质印迹测定的装置及植物根际物质印迹测定方法。本发明装置包括无盖栽培室和活动式支架,无盖栽培室为长方体、下底面有孔、正前面与一侧面铰接、无上顶面;活动式支架包括固定底架和栽培室支架,固定底架与栽培室支架通过固定连接件连接;无盖栽培室放置于栽培室支架上,无盖栽培室不垂直于水平面。本发明方法:一、无盖栽培室填充土种苗;二、放置栽培室支架上苗种;三、饱和膜制备;四、饱和膜覆植物根际处;五、取出饱和膜,紫外透射成像;六、图像进行比较和分析。本发明能够对多种重金属、有机污染物在植物根际迁移规律进行检测。
基本信息
专利标题 :
用于植物根际污染物印迹测定的装置及植物根际污染物印迹测定方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114518347A
申请号 :
CN202210110609.9
公开(公告)日 :
2022-05-20
申请日 :
2022-01-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王洪瑞张卓耘冯富娟
申请人 :
王洪瑞
申请人地址 :
黑龙江省哈尔滨市道里区建国北六道街
代理机构 :
哈尔滨市文洋专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
范欣
优先权 :
CN202210110609.9
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64 A01G9/029
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-06-07 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20220129
申请日 : 20220129
2022-05-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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