一种激光测距仪的光轴微调方法及激光测距仪
实质审查的生效
摘要

一种激光测距仪的光轴微调方法及激光测距仪,包括光路基座主体、PCB板、发射光路和接收光路,包括如下步骤:将所述发射光路或接收光路上的一个光路元件安装在摆体的中心;在所述光路基座主体的外壳上设置与所述摆体配合的承摆孔,通过调节所述摆体在所述承摆孔内轻微摆动,使得所述光路元件的安装角度轻微变动,从而使得光轴的角度得到轻微的调节,进而使得所述发射光路和接收光路保持同轴。

基本信息
专利标题 :
一种激光测距仪的光轴微调方法及激光测距仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114371470A
申请号 :
CN202210118436.5
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2022-02-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王振兴
申请人 :
深圳市长毛象电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市光明区玉塘街道田寮社区光明高新园西区七号侨德科技园厂房B栋601
代理机构 :
深圳市凯达知识产权事务所
代理人 :
刘大弯
优先权 :
CN202210118436.5
主分类号 :
G01S7/481
IPC分类号 :
G01S7/481  G01S17/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01S
无线电定向;无线电导航;采用无线电波测距或测速;采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测;采用其他波的类似装置
G01S7/00
与G01S13/00,G01S15/00,G01S17/00各组相关的系统的零部件
G01S7/48
与G01S17/00组相应的系统的
G01S7/481
结构特征,例如光学元件的布置
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 7/481
申请日 : 20220208
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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