用于显示面板的检测方法、检测装置及存储介质
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种用于显示面板的检测方法、检测装置及存储介质，该显示面板包括显示基板以及设于显示基板的边缘区域上的焊盘，该检测方法包括：使检测电极与焊盘彼此绝缘且相对间隔设置；施加电压至焊盘，以对显示面板进行点灯测试；在施加电压至焊盘期间，监测检测电极上的电荷量；根据电荷量确定焊盘的缺损检测结果，从而，在对显示面板进行点灯测试时，能够及时检测出显示面板的边缘区域的破损异常，以减小损失。
基本信息
专利标题 ：
用于显示面板的检测方法、检测装置及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114551267A
申请号 ：
CN202210122798.1
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-02-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
TCL华星光电技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵楠
优先权 ：
CN202210122798.1
主分类号 ：
H01L21/66
IPC分类号 ：
H01L21/66 H01L23/544
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/66
在制造或处理过程中的测试或测量
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/66
申请日 : 20220209
申请日 : 20220209
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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