时间交织采样方法、装置、设备及存储介质
实质审查的生效
摘要

本申请包括一种时间交织采样方法、装置、设备及存储介质,具体涉及信号采样技术领域。所述方法包括:对各个子通道信号进行相频分析,获得各个子通道信号分别对应的相频特征;根据各个子通道信号分别对应的相频特征,计算各个子通道分别对应的实际小数间隔;根据各个子通道信号分别对应的频率特征,获取各个子通道分别对应的理想小数间隔;根据各个子通道分别对应的理想小数间隔以及各个子通道分别对应的实际小数间隔,提取各个子通道分别对应的小数时延偏差,并分别对各个子通道的模数转换芯片进行小数时延偏差补偿。上述方案使得理想时间交织型ADC可以在不同频率下都可以被补偿为理想时间间隔,从而增加了理想时间交织型ADC所适用的频率范围。

基本信息
专利标题 :
时间交织采样方法、装置、设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114553228A
申请号 :
CN202210128963.4
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-02-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李睿武锦周磊
申请人 :
苏州迅芯微电子有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城西北区1幢708-1室
代理机构 :
北京三聚阳光知识产权代理有限公司
代理人 :
王娜
优先权 :
CN202210128963.4
主分类号 :
H03M1/10
IPC分类号 :
H03M1/10  H03M1/12  
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H03M 1/10
申请日 : 20220211
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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