面板异常检测显示方法、装置、电子设备及存储介质
实质审查的生效
摘要
本申请实施例提供的面板异常检测显示方法、装置、电子设备及存储介质，通过对面板进行多次检测和多次修理，将不同制程对应的检测和修理信息进行区分，且整合多次检测和多次修理的不同信息，使得最后的异常标记信息或修理标记信息中包含前面多次检测和多次修理确定的异常或修理结果；同时仅显示优先级较高的异常标记信息或修理标记信息。这样整合多次检测和多次修理信息的同时，仅利用包含所有信息的唯一的优先级最高的标记显示在面板上，利用最终显示的标记可确定面板的异常和修理，避免信息丢失以及人工导致的检测结果差异。
基本信息
专利标题 ：
面板异常检测显示方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114551268A
申请号 ：
CN202210134622.8
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-02-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吴少辉
申请人 ：
TCL华星光电技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
马广旭
优先权 ：
CN202210134622.8
主分类号 ：
H01L21/66
IPC分类号 ：
H01L21/66 H01L51/56
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/66
在制造或处理过程中的测试或测量
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/66
申请日 : 20220214
申请日 : 20220214
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
