一种多层结构孔洞缺陷的超声相控阵高效相位偏移成像方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种多层结构孔洞缺陷的超声相控阵高效相位偏移成像方法,包括以下步骤:(1)将采集的多层结构的全矩阵数据通过三维快速傅里叶变换转换到频率波数域;(2)针对该多层结构中任一未遍历层,将多层结构的表面波场外推至该未遍历层的上界面,得到该未遍历层的波场信息;(3)根据得到的波场信息,在频率波数域内对该未遍历层进行聚焦成像;(4)重复步骤(2)和(3),直至所有层遍历完毕,得到多层结构的成像结果。本发明的成像方法,仅采用叠加和二维傅里叶变换两种算子,不需要频域相位偏移中的互相关算子,大大降低了内存需求和计算复杂度,缩短了计算时间,提高了成像效率;且成像分辨率高。

基本信息
专利标题 :
一种多层结构孔洞缺陷的超声相控阵高效相位偏移成像方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114544775A
申请号 :
CN202210134843.5
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-02-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
赵朋纪凯鹏卓超杰金浩然陈剑叶盛高世权周绍华傅建中
申请人 :
浙江大学
申请人地址 :
浙江省杭州市西湖区浙大路38号
代理机构 :
杭州知闲专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
王于敏
优先权 :
CN202210134843.5
主分类号 :
G01N29/06
IPC分类号 :
G01N29/06  G01N29/46  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料;靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/04
固体分析
G01N29/06
内部的显像,例如,声显微技术
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 29/06
申请日 : 20220214
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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