基于F-DMAS和伪彩色的超声相控阵缺陷成像方法
授权
摘要
本发明提供了一种基于滤波延迟乘累加(F‑DMAS)和CMYK伪彩色的超声相控阵缺陷成像方法，并引入了自动彩色图像分割技术来检测强衰减材料中的缺陷。首先，采用F‑DMAS算法对全矩阵捕捉(FMC)数据进行后处理。然后，分析了频率成分的选择对F‑DMAS成像的影响，讨论了衰减对缺陷回波的影响。接着，利用伪彩色技术对信号的频率分量进行分离，生成具有频率和强度信息的彩色图像，以提高超声图像的信息量和缺陷的表达效果。最后，对伪彩色成像结果进行彩色图像分割和边缘检测，实现缺陷轮廓的自动提取。与线性全聚焦成像方法相比，本发明的方法在缺陷的信噪比，检测能力和表达效果等方面具有显著优势。
基本信息
专利标题 ：
基于F-DMAS和伪彩色的超声相控阵缺陷成像方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114187291A
申请号 ：
CN202210131398.7
公开（公告）日 ：
2022-03-15
申请日 ：
2022-02-14
授权号 ：
CN114187291B
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
李雄兵禹利达李海宁宋永锋杨占锋
申请人 ：
中南大学
申请人地址 ：
湖南省长沙市岳麓区麓山南路932号
代理机构 ：
长沙朕扬知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
马家骏
优先权 ：
CN202210131398.7
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/12 G06T7/13 G06T7/136 G06T5/10 G06T5/30 G01N29/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-15 ：
授权
2022-04-01 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20220214
申请日 : 20220214
2022-03-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
