一种基于小角中子散射表征页岩孔隙结构各向异性的方法
公开
摘要
本发明提供一种基于小角中子散射表征页岩孔隙结构各向异性的方法,包括:制备待测页岩样品;对样品进行小角中子散射实验,获得椭球形各向异性二维散射剖面;对二维散射剖面划分积分区域,对各个方位角上的散射强度进行计算,并绘制散射强度相对于方位角的非均匀分布图;选择最大和最小散射强度区,获取对应的一维散射曲线;对一维散射曲线进行校正以及拟合处理,获取样品的孔隙结构信息;通过对比两个不同方向上的孔隙结构信息,表征孔隙结构的各向异性。本发明提供了一种全新的表征页岩孔隙结构各向异性的方法,基于小角中子散射实验定量表征孔隙结构的各向异性,为探寻油气运移优势通道提供了有效手段,对油藏精细评价和有效开采有重要意义。
基本信息
专利标题 :
一种基于小角中子散射表征页岩孔隙结构各向异性的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114577832A
申请号 :
CN202210153346.X
公开(公告)日 :
2022-06-03
申请日 :
2022-02-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
吴泽宇孙梦迪潘哲君高波王永超徐嫣然
申请人 :
中国地质大学(武汉)
申请人地址 :
湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202210153346.X
主分类号 :
G01N23/202
IPC分类号 :
G01N23/202 G01N15/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/201
测量小角散射,例如小角X射线散射
G01N23/202
利用中子
法律状态
2022-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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