基于特征光谱的铜箔瑕疵检测方法、装置和电子设备
实质审查的生效
摘要
本申请提供一种基于特征光谱的铜箔瑕疵检测方法、装置和电子设备。该方法包括：电子设备可以从摄像头中获取摄像头拍摄得到的每一铜箔的采样图片。电子设备可以将该采样图片输入到异常点检测算法中。电子设备可以通过该异常点检测算法实现该铜箔的质量检测，确定该铜箔表面是否包括异常点，从而确定铜箔的质量指标和异常点信息。电子设备可以根据铜箔的质量指标和异常点信息，生成控制指令，控制指令用于指示铜箔处理机对不同质量的铜箔进行不同处理。本申请的方法，提高了该铜箔的异常检测效率，提高了异常铜箔的处理效率。
基本信息
专利标题 ：
基于特征光谱的铜箔瑕疵检测方法、装置和电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114466183A
申请号 ：
CN202210156040.X
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2022-02-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
闫瑞刚陈忠顾凯越王卫季鹏
申请人 ：
江东电子材料有限公司;汇弘睿光电科技（苏州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省南通市如东经济开发区嘉陵江路198号
代理机构 ：
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 ：
马明明
优先权 ：
CN202210156040.X
主分类号 ：
H04N17/00
IPC分类号 ：
H04N17/00 H04N17/06 H04N5/232
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04N 17/00
申请日 : 20220221
申请日 : 20220221
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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