一种铁谱基片
实质审查的生效
摘要

本申请提供了一种铁谱基片,所述铁谱基片包括:玻璃基片;透明导电薄膜,所述透明导电薄膜镀覆在所述玻璃基片的至少一个平面上;限流带,所述限流带设置在所述透明导电薄膜上且围绕成一个U形区域,所述U形区域的进口为玻璃基片的任一边缘,以使被测油液能够自所述进口流入至所述U形区域内。本申请提供的新型铁谱基片可以利用铁谱分析技术使滑油中的磨损颗粒直接沉积以完整保留,既而可以在双色显微镜下观察磨损颗粒的颜色、大小、数量和形貌等特征信息,以判断发动机的磨损形式、磨损严重程度及可能的磨损位置,磨损颗粒表面不存在金属膜或碳膜,因而又能够在扫描电子显微镜下直接分析新型铁谱基片上典型特征磨损颗粒的成分,准确性高。

基本信息
专利标题 :
一种铁谱基片
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114544686A
申请号 :
CN202210160544.9
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-02-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杨景来郎宏王秋实佟文伟张开阔修攀瑞刘宇佳郝延龙
申请人 :
中国航发沈阳发动机研究所
申请人地址 :
辽宁省沈阳市沈河区万莲路1号
代理机构 :
北京航信高科知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
高原
优先权 :
CN202210160544.9
主分类号 :
G01N23/2251
IPC分类号 :
G01N23/2251  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
G01N23/2251
使用入射电子束,例如扫描电子显微镜
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/2251
申请日 : 20220222
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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