天线测量方法、装置、球面测量设备及可读存储介质
公开
摘要

本申请实施例提供了一种天线测量方法、装置、球面测量设备及可读存储介质,应用于球面测量设备,天线测量方法包括:获取待测量天线的尺寸参数;根据所述待测量天线的尺寸参数获取球面测量设备的测量参数,根据所述测量参数计算所述球面测量设备的初始探头阵列数量和初始间隔距离;对初始探头阵列的数量和初始间隔距离进行预设的采样次数筛选,以获取目标探头阵列数量和目标间隔距离;基于目标探头阵列数量和目标间隔距离设置所述球面测量设备中的探头阵列位置,并根据预设时间间隔对所述待测量天线进行对应所述采样次数的测量。通过分时多次测量的方式,本实施例中的天线测量方法有效降低了探头阵列的数量,从而有效减少了测量设备的制作成本。

基本信息
专利标题 :
天线测量方法、装置、球面测量设备及可读存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114578142A
申请号 :
CN202210166948.9
公开(公告)日 :
2022-06-03
申请日 :
2022-02-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
胡伟东赵鹏刘阳张凯旗韩钟德姚智宇蒋环宇
申请人 :
北京理工大学
申请人地址 :
北京市海淀区中关村南大街5号
代理机构 :
北京竹辰知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
彭一波
优先权 :
CN202210166948.9
主分类号 :
G01R29/10
IPC分类号 :
G01R29/10  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2022-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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