球面光学元件光谱反射率测量装置
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
摘要

一种球面光学元件光谱反射率的测量装置,包括光源系统、样品架、接收系统、数据分析处理系统等。其特点是样品架上设有三个钢珠,它们分别位于一平面三角形顶点,被测体球面放置于三个钢珠上;光源发射端和反射光接收端同置于凹面样品球面的球心位置或凸面样品球面球心通过会聚透镜形成的像点位置。这种装置结构简单实用,造价低,测量结果与同类测量装置相比,较全面表征整个球面或较大球面积的光谱反射特征,更为准确反映球面光学元件的实际性能,特别适用于镀膜光学元件生产的质量检查。

基本信息
专利标题 :
球面光学元件光谱反射率测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620155319.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-12-27
授权号 :
CN201016840Y
授权日 :
2008-02-06
发明人 :
姚建政钟汉民罗新华
申请人 :
姚建政
申请人地址 :
511450广东省广州市番禺区石基镇市莲路东华花园44座1梯503房
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200620155319.2
主分类号 :
G01M11/00
IPC分类号 :
G01M11/00  G01M11/02  G01J3/02  G01J3/10  G01J3/28  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试;其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2009-09-09 :
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
放弃生效日 : 2009826
2008-02-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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