一种大口径光学元件变角度光谱反射比测量装置及其方法
公开
摘要
本发明公开了一种大口径光学元件变角度光谱反射比测量装置及其方法，属于光学测量领域，包括光源，单色仪及探测器，还包括变角度反射比辅助测量附件，所述探测器固定设置，所述测量孔外侧固定设置有待测大口径光学元件的放置架，所述附件外壳内设置有反射镜MⅠ和反射镜MⅡ，所述反射镜MⅠ和反射镜MⅡ内镜面方向角对称设置，所述反射镜MⅠ和反射镜MⅡ分别安装在电动旋转台，安装有反射镜MⅠ的电动旋转台、安装有反射镜MⅡ的电动旋转台分别安装在可沿一维方向平移的相应位置处。避免了旋转待测大口径元件及探测器，装置测量成本大大降低。
基本信息
专利标题 ：
一种大口径光学元件变角度光谱反射比测量装置及其方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114608809A
申请号 ：
CN202210337454.2
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-04-01
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
石振东马骅白金玺
申请人 ：
中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请人地址 ：
四川省绵阳市游仙区绵山路64号
代理机构 ：
成都弘毅天承知识产权代理有限公司
代理人 ：
轩勇丽
优先权 ：
CN202210337454.2
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G01J3/02 G01J3/10 G01J3/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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