一种大口径平面反射镜多入射角度反射率测量装置
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摘要
本实用新型属光学薄膜元件反射率测量领域，尤其涉及一种大口径平面反射镜多入射角度反射率测量装置，包括多角度支架（1）；所述多角度支架（1）呈半球形结构；所述多角度支架（1）底部平面中心区域开有半球面凹槽（2）；在所述多角度支架（1）内对称设有用于定位测量光纤的多组限位孔（3）；所述限位孔（3）的中心轴线均相交于多角度支架（1）底部平面重心；在所述限位孔（3）内分别固定装有入射光纤（5）和出射光纤（6）。本实用新型简化了测量装置，且支架尺寸小巧，移动便捷；将测量的入射光纤和接收光纤分别插入对称的限位孔内，用锁紧螺丝固定光纤便可移动支架直接测量大口径平面反射镜表面任意位置不同入射角度的反射率。
基本信息
专利标题 ：
一种大口径平面反射镜多入射角度反射率测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022449008.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-29
授权号 ：
CN213274790U
授权日 ：
2021-05-25
发明人 ：
宋光辉王银河刘新华姚春龙刘海涛李文龙
申请人 ：
沈阳仪表科学研究院有限公司
申请人地址 ：
辽宁省沈阳市大东区北海街242号
代理机构 ：
沈阳亚泰专利商标代理有限公司
代理人 ：
郭元艺
优先权 ：
CN202022449008.X
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2021-05-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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