包括内部光谱参考件的光学测量设备
公开
摘要
光学测量设备可以包括：光源；发射光学器件，其被配置为将由光源产生的第一部分光引导至测量目标；收集光学器件，其被配置为接收来自测量目标的光；光学导管，其被配置为将由光源产生的第二部分光引导至光谱参考件；光谱参考件；传感器；和滤光器。滤光器的第一部分可以设置在传感器的第一部分和收集光学器件之间。滤光器的第二部分可以设置在传感器的第二部分和光谱参考件之间。
基本信息
专利标题 ：
包括内部光谱参考件的光学测量设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114341600A
申请号 ：
CN202080060536.6
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2020-08-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
威廉·D·霍克瓦尔顿·史密斯
申请人 ：
唯亚威通讯技术有限公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
北京安信方达知识产权代理有限公司
代理人 ：
张瑞
优先权 ：
CN202080060536.6
主分类号 ：
G01J3/02
IPC分类号 ：
G01J3/02 G01J3/10 G01J3/443 G01N21/27 G01N21/47
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/02
零部件
法律状态
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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