用于红外光谱测定的高级参考检测器
授权
摘要
一种其中光学路径遵循干涉仪的光谱测定系统和方法包含具有大体上安置在其焦点处的孔径的Jacquinot光阑(70)。所述Jacquinot光阑包含与所述路径的纵向轴大体上非正交且面向含有干涉图的IR信号的源的反射性表面(74)。所述孔(72)径传递入射IR信号的内部部分，同时所述反射性表面反射外部部分。归因于干涉仪光学件中的固有缺陷而含有错误光谱信息的所述入射IR信号的所述反射的外部部分由此从最终用于照射样本的初始入射IR信号有效地去除，但仍可用于监视取样光学件的背景光谱。
基本信息
专利标题 ：
用于红外光谱测定的高级参考检测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110770551A
申请号 ：
CN201880039198.0
公开（公告）日 ：
2020-02-07
申请日 ：
2018-07-13
授权号 ：
CN110770551B
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
J·M·考菲
申请人 ：
热电科学仪器有限公司
申请人地址 ：
美国威斯康星州
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
陈洁
优先权 ：
CN201880039198.0
主分类号 ：
G01J3/28
IPC分类号 ：
G01J3/28 G01J3/02 G01J3/45
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2022-04-15 ：
授权
2020-07-17 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/28
申请日 : 20180713
申请日 : 20180713
2020-02-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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