一种基于线状全波段光谱投影光学测量结构

授权

摘要

本实用新型公开了一种基于线状全波段光谱投影光学测量结构，包括底座和外壳，所述外壳的一侧外壁上开有样品槽，所述样品槽的顶部外壁上设置有接收口，且样品槽的底部外壁上设置有光源，所述外壳的内壁上设置有入射板，且入射板与接收口相对，所述外壳上靠近入射板的内壁上固定连接有狭缝板，所述外壳上靠近狭缝板的内壁上设置有准直透镜，且狭缝板位于准直透镜和入射板之间，所述外壳的内壁上固定连接有光栅，且外壳上靠近光栅的内壁上设置有聚焦透镜。本实用新型能够完成对入射光线的光谱制作，达到测量的目的，且该测量结构的测量精度较好，并且外壳上设置有把手，能使测量结构更加便于携带。

基本信息

专利标题：

一种基于线状全波段光谱投影光学测量结构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920999726.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-30

授权号：

CN210376121U

授权日：

2020-04-21

发明人：

林幸生

申请人：

佛山市科德林自动化精密测控科技有限公司

申请人地址：

广东省佛山市顺德区杏坛镇高赞村委会二环路8号顺德智富园1栋701

代理机构：

北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

肖平安

优先权：

CN201920999726.9

主分类号：

G01N21/31

IPC分类号：

G01N21/31 G01N21/01