一种提高高精度光学元件反射率/透射率的测量方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种提高高精度光学元件反射率/透射率的测量方法，该方法基于分光光度计原理，使用伪随机码以及特定频率载波对单激光器光源进行调制，将分束镜分出的两束光分别作为测量光与参考光，经探测器收集，电路采样，相关累积处理最终得出光学元件反射率/透射率。与传统的测量方法相比，具有更高的信噪比和抗干扰能力，相关累积的算法也提高了检测精度。
基本信息
专利标题 ：
一种提高高精度光学元件反射率/透射率的测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114264453A
申请号 ：
CN202111607955.X
公开（公告）日 ：
2022-04-01
申请日 ：
2021-12-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
周鹰冀轩亨赵斌兴王静孙启明李斌成
申请人 ：
电子科技大学
申请人地址 ：
四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202111607955.X
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-04-19 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20211221
申请日 : 20211221
2022-04-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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