双差式反射率透射率计
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
本实用新型属于光谱测量仪器，是关于反射率透射率的测量计。本实用新型主要是对现有的差动式透反仪进行了改进，用中间带有通孔的空间分束镜代替介质膜半反片，用平衡电位器和电阻组分别代替两个高精度的电阻箱，并在电阻组上连一度盘做为测量的粗读值，检流计的标尺经过专门定标，其刻度值作为测量的精读值，使测量精度达到0.01％精度级。探测器采用紫外增强型光伏探测器，并且连有相等的低放大倍数的微电流放大器。
基本信息
专利标题 ：
双差式反射率透射率计
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN86206193.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1986-08-23
授权号 ：
CN86206193U
授权日 ：
1987-07-08
发明人 ：
孙成亮龙干云张继成
申请人 ：
湖南省技术物理研究所
申请人地址 ：
湖南省长沙市青园路7号
代理机构 ：
湖南省专利服务中心
代理人 ：
罗建民
优先权 ：
CN86206193.8
主分类号 ：
G01J3/36
IPC分类号 ：
G01J3/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
G01J3/30
直接从光谱本身测量谱线强度
G01J3/36
利用分开的检测器测试两个或更多的谱带
法律状态
1991-01-23 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1988-01-20 ：
授权
1987-07-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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