超导电路与CMOS电路之间的跨温区互联系统、超导测试电路
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种超导电路与CMOS电路之间的跨温区互联系统、超导测试电路，超导测试电路包括CMOS电路与跨温区互联系统；跨温区互联系统包括衰减模块、放大模块和传输线链路；所述衰减模块的输入端用于连接CMOS电路，所述衰减模块的输出端用于连接所述超导电路；所述衰减模块用于将CMOS电路的CMOS逻辑电平转化处理为超导逻辑电平；所述放大模块的输入端用于连接所述超导电路，所述衰减模块的输出端用于连接所述CMOS电路；所述放大模块用于将超导电路的超导逻辑电平转化处理为CMOS逻辑电平；所述传输线链路用于实现超导电路与CMOS电路之间跨温区的信号传输。本发明能保证测试中超导芯片的高速、动态功能实现。
基本信息
专利标题 ：
超导电路与CMOS电路之间的跨温区互联系统、超导测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114553210A
申请号 ：
CN202210168023.8
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-02-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
原蒲升李凌云王永良汪书娜余慧勤尤立星
申请人 ：
中国科学院上海微系统与信息技术研究所
申请人地址 ：
上海市长宁区长宁路865号
代理机构 ：
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
赵琴
优先权 ：
CN202210168023.8
主分类号 ：
H03K19/0175
IPC分类号 ：
H03K19/0175 H03K19/195 G01R31/3177
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H03K 19/0175
申请日 : 20220223
申请日 : 20220223
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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