本发明公开了一种芯片随机测试用例回归方法，包括以下步骤：设置每个测试用例的随机次数，并将所述每个测试用例生成其对应随机次数个种子用例；基于预设最大运行数量将所述每个测试用例的全部种子用例顺序提交测试；响应于检测到某个种子用例测试失败，则停止将其对应测试用例生成的其他未提交的种子用例提交测试；以及获取测试失败种子用例的失败原因，并基于预设策略对测试失败种子用例再次测试。本发明还公开了一种芯片随机测试用例回归装置、计算机设备和可读存储介质。本发明对随机用例进行固定次数的随机测试，无需用户额外学习，操作也更简单；输入内容简化清晰，且结果文件明确，在对用例失败后的情况也提出了较好的处理方式。