一种产测治具TP测试优化方法及系统
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种产测治具TP测试优化方法，包括步骤：将产测治具与手机触控屏通过FPC建立通讯连接；产测治具中的数据读取单元通过通讯连接读取固件数据信息；产测治具中的产测标记单元对数据读取进程进行标记；产测治具中的产测控制单元根据标记的内容对手机TP测试时间进行延时补偿。还公开了一种优化系统。实施本发明，解决了手机触控屏与产测治具之间的TP测试的IIC线路较长导致数据读取失败或者产测治具驱动IC命令不能完全被执行及TP测试出现错误的问题，提高了手机TP测试的效率。
基本信息
专利标题 ：
一种产测治具TP测试优化方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114545130A
申请号 ：
CN202210184603.6
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-02-25
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
杨磊
申请人 ：
信利光电股份有限公司
申请人地址 ：
广东省汕尾市城区工业大道信利工业城一区第15栋
代理机构 ：
广州粤高专利商标代理有限公司
代理人 ：
刘爱珍
优先权 ：
CN202210184603.6
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20220225
申请日 : 20220225
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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