基于控制约束的访存测试程序生成方法
公开
摘要

本发明公开一种基于控制约束的访存测试程序生成方法,包括以下步骤:步骤1、生成控制核心运行的程序,在其中声明可操作的地址空间大小以及首地址,并生成计算核心的代码段;步骤2、生成计算核心访存测试程序,将计算核心的访存首地址设置成控制程序申请的可操作首地址;步骤3、在计算核心访存地址遍历生成时,进行地址访存序列的控制生成;步骤4、根据步骤3中获得的参数,形成对应的测试程序。本发明面向国产向众核异构处理器实现满足约束条件的随机访存测试,另外能够根据访存策略进行定制,对处理器的存储一致性实现有针对性的验证测试,实现了合法且随机的访存测试程序生成。

基本信息
专利标题 :
基于控制约束的访存测试程序生成方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114564397A
申请号 :
CN202210185716.8
公开(公告)日 :
2022-05-31
申请日 :
2022-02-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
谭坚刘鑫陈德训胡夏晖武颖颖相陈伟陈明津
申请人 :
无锡江南计算技术研究所
申请人地址 :
江苏省无锡市滨湖区山水东路699号
代理机构 :
苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人 :
王健
优先权 :
CN202210185716.8
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-05-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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