一种泛电子领域自动光学检测设备的标定方法
实质审查的生效
摘要
泛电子领域自动光学检测设备的标定一般采用Z轴锁定的标定方法,由于轨道平面存在装配误差,无法保证其与相机的焦平面完全平行,因此该标定方法存在Z方向误差,导致整个标定范围内相机的分辨率不一致,降低了设备的检测精度。本发明提出了一种通过Z轴自适应调整的标定方法。首先标定相机的内参,然后将相机移动到指定位置拍照并计算该位置的外参、工作距离和分辨率,通过PID控制调整Z轴位置,来保证该位置的实际分辨率与期望分辨率近似。后续检测定位中,若检测位置在标定的位置,使用标定位置的外参进行坐标映射;若不在标定的位置,使用插值的方式计算出该坐标位置的外参。本发明保证了检测系统中分辨率的一致性,提升了检测精度。
基本信息
专利标题 :
一种泛电子领域自动光学检测设备的标定方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114519747A
申请号 :
CN202210186779.5
公开(公告)日 :
2022-05-20
申请日 :
2022-02-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王飞王志超董杰楚佘敏敏刘草杨阳
申请人 :
嘉兴市像景智能装备有限公司
申请人地址 :
浙江省嘉兴市桐乡市高桥镇工业园区8-2幢1楼西
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202210186779.5
主分类号 :
G06T7/80
IPC分类号 :
G06T7/80 G06T7/70
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/10
分割;边缘检测
G06T7/80
通过图像分析确定摄像机内部或外部的参数,例如摄像机校准
法律状态
2022-06-07 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/80
申请日 : 20220228
申请日 : 20220228
2022-05-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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