一种拓扑信号发生设备检测装置
公开
摘要
本发明公开了一种拓扑信号发生设备检测装置，包括上位机单元、中控处理器单元、温度采集单元、拓扑信号采集单元、可编程数字电源、EUT表位，所述上位机单元分别与所述中控处理器单元、所述可编程数字电源、所述EUT表位通讯连接，所述中控处理器单元分别与所述拓扑信号采集单元、所述温度采集单元电气连接，所述可编程数字电源与所述EUT表位电气连接。该装置组成简单，智能化，易操作，可靠性高，适合对各种拓扑信号发生设备进行黑盒方式的评测，评判各种拓扑信号发生设备的优劣。
基本信息
专利标题 ：
一种拓扑信号发生设备检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578159A
申请号 ：
CN202210189112.0
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-02-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
胡亮陈圆敬泽安张武娟刘志勇李俊汤可周宇
申请人 ：
威胜信息技术股份有限公司
申请人地址 ：
湖南省长沙市高新技术产业开发区桐梓坡西路468号
代理机构 ：
长沙楚为知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
龚安
优先权 ：
CN202210189112.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
