一种基于荧光强度分析的表面活性剂临界胶束浓度检测装置及其...
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种基于荧光强度分析的表面活性剂临界胶束浓度检测装置及其方法。包括位移台,所述位移台上分别设置有激发光路、比色皿和收集光路,所述激发光路包括氘灯光源,所述氘灯光源上通过第一紫外增透凸透镜设置有第一单色仪,且第一单色仪上设置有光阑,所述收集光路包括第二紫外增透凸透镜和第三紫外增透凸透镜,且第二紫外增透凸透镜和第三紫外增透凸透镜之间设置有与第二单色仪,所述第三紫外增透凸透镜的一侧设置有光子计数探头。本发明提供的基于荧光强度分析的表面活性剂临界胶束浓度检测装置及其方法,具有装置简单、价格便宜、操作方便、检测时间短、灵敏度高和适用范围广的优点。

基本信息
专利标题 :
一种基于荧光强度分析的表面活性剂临界胶束浓度检测装置及其方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114527108A
申请号 :
CN202210200508.0
公开(公告)日 :
2022-05-24
申请日 :
2022-03-02
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
鲍恋君杨俊龚湘君张广照曾永平田文章
申请人 :
暨南大学
申请人地址 :
广东省广州市黄埔大道西601号
代理机构 :
深圳科湾知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李晓林
优先权 :
CN202210200508.0
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-06-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20220302
2022-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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