一种基于阵列导波模式域秩损的结构损伤检测方法
公开
摘要
本发明公开了一种基于阵列导波模式域秩损的结构损伤检测方法。该方法基于均匀圆形导波阵列，受空间域中秩损理论的启发，使用额外的压电传感器构造秩损的必要条件，即降秩向量，考虑减小圆阵半径来创建与模式域中损伤位置相关的降秩向量。这表明在阵列导波的模式域中，可以解除空间域方向矢量中的损伤位置信息和通道相位误差之间的耦合关系，然后在模式域中基于秩损理论，利用降秩向量建立仅与相位误差相关的目标函数。然后，在校准通道相位误差的情况下，通过UCA‑ESPRIT算法估计结构损伤位置。该方法不需要冗余传感器或校准源。此外，它避免了多维迭代，且优于基于Schur积的方法，因为其对阵列孔径有更大的容忍度。
基本信息
专利标题 ：
一种基于阵列导波模式域秩损的结构损伤检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609253A
申请号 ：
CN202210210301.1
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-04
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
胡伟伟王强糜长军杨新宝
申请人 ：
江苏广宇协同科技发展研究院有限公司;南京邮电大学
申请人地址 ：
江苏省南京市江北新区星火路17号创智大厦B座805室
代理机构 ：
北京弘权知识产权代理有限公司
代理人 ：
逯长明
优先权 ：
CN202210210301.1
主分类号 ：
G01N29/44
IPC分类号 ：
G01N29/44 G01N29/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/44
处理探测的响应信号
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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