一种设备调试的方法和控制器
实质审查的生效
摘要

本申请公开了一种设备调试的方法,包括:控制器接收调试模块信息和各调试参数及相应的参数取值范围;控制器对应每个调试模块,生成相应调试模块中各调试参数的多种参数取值组合;对应每个调试模块的每种参数取值组合,控制器在若干测试设备中选择当前测试设备,将相应的参数取值组合下发给当前测试设备,以对相应调试模块进行测试;控制器根据每个调试模块的所有参数取值组合的测试结果,确定对应每个调试模块的最佳参数取值组合。应用本申请,能够自动进行各种参数的综合调试,以选取合适的参数取值组合。

基本信息
专利标题 :
一种设备调试的方法和控制器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114331917A
申请号 :
CN202210218143.4
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2022-03-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
韩志敏艾国杨作兴房汝明向志宏
申请人 :
深圳比特微电子科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区高新南六道航盛科技大厦801
代理机构 :
北京德琦知识产权代理有限公司
代理人 :
王双
优先权 :
CN202210218143.4
主分类号 :
G06T5/00
IPC分类号 :
G06T5/00  G06T7/13  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T5/00
图像的增强或复原
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 5/00
申请日 : 20220308
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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