一种用于SERF原子磁强计磁场测量的可调双光束产生装置
公开
摘要
本发明涉及一种用于SERF原子磁强计磁场测量的可调双光束产生装置，属于光学磁强计领域。SERF原子磁强计具有极高的磁场测量灵敏度，其装置对稳定的零磁场环境依赖性大，磁场检测极易受外界环境磁噪声影响。由于其检测光仅有一束，所以限制了SERF原子磁强计的检测精度与灵敏度。本发明设计的装置是，在SERF原子磁强计单束检测光的平行方向上增加一束可调节的检测光来使输出噪声减小、信号响应变强，再通过输出响应信号调节补偿和提高SERF原子磁强计的检测精度与灵敏度。本发明具有成本低、结构简单、调节范围大、调节精密程度高，易于维护等优点，未来可应用于超高精度极弱磁测量、心脑磁测量等高精度、高灵敏度的磁场信号测量等领域。
基本信息
专利标题 ：
一种用于SERF原子磁强计磁场测量的可调双光束产生装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114594413A
申请号 ：
CN202210221419.4
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-03-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王子轩张宁陆吉玺于婷婷郭强孙雨佳
申请人 ：
之江实验室
申请人地址 ：
浙江省杭州市余杭区之江实验室南湖总部
代理机构 ：
北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张荣鑫
优先权 ：
CN202210221419.4
主分类号 ：
G01R33/032
IPC分类号 ：
G01R33/032
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
G01R33/032
采用磁—光设备，例如法拉第的
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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