一种表征二维极化激元实空间特征的方法
公开
摘要
本发明提供了一种表征二维极化激元实空间特征的方法，包括如下步骤：S1：将被测样品置于SiO2/Si基底上，使被测样品的一条边缘与散射型近场光学显微镜的悬梁臂边缘呈45°；S2：使散射型近场光学显微镜的针尖沿着垂直于被测样品的边缘扫描，依次改变激发激光光源的波长，散射型近场光学显微镜通过扫描得到近场实空间图像；S3：对步骤二中得到的近场实空间图像一一进行傅里叶变换处理，分别得到杂化极化激元模式的波矢量实部k′p和传播长度Lp；S4：根据公式求得各个波长下的杂化极化激元的波矢k′p和Lp。本发明通过散射型近场光学显微镜突破衍射极限，探究近场区域内光与物质的相互作用的物理现象，呈现二维极化激元的实空间特征。
基本信息
专利标题 ：
一种表征二维极化激元实空间特征的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114594097A
申请号 ：
CN202210223081.6
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-03-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
杨慧秦康左宗岩董子豪张学进
申请人 ：
南京大学
申请人地址 ：
江苏省南京市鼓楼区汉口路22号
代理机构 ：
南京正联知识产权代理有限公司
代理人 ：
卢霞
优先权 ：
CN202210223081.6
主分类号 ：
G01N21/84
IPC分类号 ：
G01N21/84 G01Q60/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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