星载SAR斜视滑聚成像模式下的几何定位处理方法和装置
公开
摘要
本发明公开了一种星载SAR斜视滑聚成像模式下的几何定位处理方法和装置，所述方法包括：利用地面目标点的斜视影像，计算得到地面目标点的斜距，利用地面目标点的斜距以及卫星SAR载荷成像时刻的卫星位置，计算得到对地面目标进行斜视成像时的卫星斜视角，进而计算得到卫星SAR载荷天线指向与地表的交点，将该交点坐标作为地面目标点的位置坐标。所述装置包括：斜距计算模块，卫星斜视角计算模块和地面目标点的位置坐标估计模块。本发明通过充分利用斜视滑聚成像特性以及成像过程中的星地位置关系，解决了在SAR大斜视滑聚模式下传统距离‑多普勒几何定位方法不适用的问题，实现了SAR斜视滑聚模式的地面目标几何定位。
基本信息
专利标题 ：
星载SAR斜视滑聚成像模式下的几何定位处理方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114594474A
申请号 ：
CN202210226609.5
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-03-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李莹莹吕守业吴昊辛煜连翠萍汪源李海峰高歌梦月王雪莹
申请人 ：
北京市遥感信息研究所
申请人地址 ：
北京市朝阳区外馆斜街6号院
代理机构 ：
北京丰浩知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李奉瑾
优先权 ：
CN202210226609.5
主分类号 ：
G01S13/90
IPC分类号 ：
G01S13/90
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S13/00
使用无线电波的反射或再辐射的系统，例如雷达系统；利用波的性质或波长是无关的或未指明的波的反射或再辐射的类似系统
G01S13/89
用于绘地图或成像
G01S13/90
使用合成孔径技术
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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