一种痕量物质自动采样检测装置
公开
摘要
本发明公开一种痕量物质自动采样检测装置，包底板，底板上设置有卷料带组件、擦拭装置、料带回卷装置、推进装置以及检测装置；卷料带组件用于将料带支撑张紧并进行滚动传送；擦拭装置设置于卷料带组件的一端部用于将待测物均匀的擦拭于取样料带上；料带回卷装置用于将取样料带顺时针或逆时针回转至擦拭区或检测区；推进装置设置于卷料带组件的另一端部用于将到达检测区的料带样件推送至检测位；检测装置设置于推进装置的相对面，用于检测分析料带样件上的痕量物质相关数值。
基本信息
专利标题 ：
一种痕量物质自动采样检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114608893A
申请号 ：
CN202210226652.1
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
佟世均
申请人 ：
北京科泰特科技发展有限公司
申请人地址 ：
北京市东城区东直门外小街甲2号5层B座506
代理机构 ：
晋中市思锐知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
赵科
优先权 ：
CN202210226652.1
主分类号 ：
G01N1/20
IPC分类号 ：
G01N1/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样；制备测试用的样品
G01N1/02
取样装置
G01N1/10
液体或流体的
G01N1/20
用于流动或下落的材料
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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