用于RAM受到故障注入攻击的检测方法、装置和存储介质
实质审查的生效
摘要
本申请涉及集成电路安全检测技术领域，公开一种用于RAM受到故障注入攻击的检测方法，包括：对RAM存储单元的地址进行乱序排列；在RAM运行的过程中，对RAM存储单元进行全片校验；在全片校验发现奇偶校验错误的情况下，确定RAM受到故障注入攻击。该方法可以检测出更多字节出现数据错误，从而扩大了校验范围，提高检测故障注入攻击的准确度和灵敏度。本申请还公开一种用于RAM受到故障注入攻击的检测装置及存储介质。
基本信息
专利标题 ：
用于RAM受到故障注入攻击的检测方法、装置和存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114328001A
申请号 ：
CN202210234822.0
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2022-03-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
孙磊苏军恒
申请人 ：
紫光同芯微电子有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区王庄路1号院清华同方科技大厦D座6层0611-06号
代理机构 ：
北京康盛知识产权代理有限公司
代理人 ：
杨国勇
优先权 ：
CN202210234822.0
主分类号 ：
G06F11/10
IPC分类号 ：
G06F11/10 G06F12/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/07
响应错误的产生，例如，容错
G06F11/08
用数据表示中的冗余码作错误检测或校正，例如，应用校验码
G06F11/10
对编码信息添加特定的码或符号，例如，奇偶校验、除9或除11校验
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/10
申请日 : 20220311
申请日 : 20220311
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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