本发明公开了一种可复用测试用例框架、构建方法及电子设备，可复用测试用例框架集成有测试函数库、模板函数接口层、芯片选型表、测试列表以及解析复用主程序；本发明实施例提供的方案，使用测试函数库和模板函数接口层可以使芯片测试用例和实际芯片差异分隔开，利于在不同芯片中，对不同算子测试时抛开算子特性，统一到一个抽象测试接口，只需要更新测试函数库，就能通过模板函数接口来匹配各种不同的测试函数，达到可复用的测试目的；使用测试列表能有效的控制多个测试函数，使芯片算子多个测试函数批量进行，节省了测试人员的测试工作量；使用芯片选型表，能够使芯片测试用例集和各个不同的芯片类型分隔开，让测试用例复用到不同芯片上。