一种X射线荧光光谱仪及中草药重金属快速检测方法
实质审查的生效
摘要
本发明设计X光检测技术领域，具体是X射线荧光光谱仪及中草药重金属快速检测方法,单波长激发能量色散X射线荧光光谱仪(HS‑XRF)，采用了全聚焦型双曲面弯晶，对X射线管出射谱进行单色化聚焦入射到样品，从而大幅降低散射线背景，降低了待测元素检出限1‑2个数量级；快速基本参数法(Fast FP)利用基本参数库与先进数学模型，解决XRF多种基体元素间干扰效应等所带来的不确定性与分析误差，减少对标准品的依赖性，达到对各类中草药样品进行重金属定量分析的目标；可以完成中草药材中重金属快速检测的目的，填补当前中草药材多种重金属快速检测的市场空白，满足中草药材种植、流通、加工、质检等各个环节对重金属质量安全快速检测的需求。
基本信息
专利标题 ：
一种X射线荧光光谱仪及中草药重金属快速检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114324434A
申请号 ：
CN202210249909.5
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2022-03-15
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
马兴娄婷婷章骅刘晓静张静肖亚兵
申请人 ：
天津海关动植物与食品检测中心;北京安科慧生科技有限公司
申请人地址 ：
天津市滨海新区开发区第二大街51号
代理机构 ：
天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李京京
优先权 ：
CN202210249909.5
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/223
申请日 : 20220315
申请日 : 20220315
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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