介质界面光学传感器及其检测方法
授权
摘要

本发明公开了一种介质界面光学传感器及其检测方法,包括用于容纳流体介质以形成待监测介质界面的流体管路;流体管路上设有对射式光学结构和全反射式光学结构,全反射式光学结构位于对射式光学结构的下方,且全反射式光学结构和对射式光学结构的输入端均与光源电源电连接,全反射式光学结构和对射式光学结构的输出端与控制器信号连接。本发明设置对射式光学结构和全反射式光学结构,利用光的对射原理和全反射原理的配合,实现在通明介质和不透光介质的情况下对被监测介质界面位置进行准确的监测,检测可靠性高,还能应对各种物理属性不同的介质情况,应用范围广,且本发明整体结构简单,可以基于原有光学传感器的改造,简易便行。

基本信息
专利标题 :
介质界面光学传感器及其检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114354547A
申请号 :
CN202210254644.8
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-03-16
授权号 :
CN114354547B
授权日 :
2022-05-20
发明人 :
徐进勇王乐然彭德义余鑫孙傲王彤
申请人 :
成都理工大学
申请人地址 :
四川省成都市成华区二仙桥东三路1号
代理机构 :
成都正德明志知识产权代理有限公司
代理人 :
雷正
优先权 :
CN202210254644.8
主分类号 :
G01N21/55
IPC分类号 :
G01N21/55  G01N21/59  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/55
镜面反射率
法律状态
2022-05-20 :
授权
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/55
申请日 : 20220316
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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